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机译:3月1日CRF:对SRAM存储器中复杂读取错误的有效测试
Luigi Dilillo; Bashir M. Al-hashimi; Dr Luigi Dilillo;
机译:SRAM存储器中动态读取破坏性故障检测的有效March测试程序
机译:6T SRAM中读取恢复动态故障的研究及缩短测试时间的方法
机译:6T SRAMS中读取恢复动态故障的研究及缩短测试时间的方法
机译:3月CRF:针对SRAM存储器中复杂读取错误的有效测试
机译:NBTI引起的SRAM故障的测试,诊断和修复方法。
机译:勘误表:SOAPdenovo2:从经验上提高了内存效率的短读从头汇编程序
机译:集成电路例如存储电路,带有测试电路,用于在测试模式下读出故障数据,响应于不同的读取命令,将故障数据提供给备用数据输出
机译:随机访问存储器中近邻图形和位线敏感故障的有效内置自测试电路和算法
机译:内置自测算法,可有效检测多端口存储器的地址相关故障,而无需详细的布局和布线信息
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